光栅线位移测量系统
Gratinglineardisplacementmeasuringsystem
摘要:本标准规定了光栅线位移测量系统的基本参数、技术要求和试验方法。本标准适用于分辨率为0.1~10μm的测量系统。
标准编号:JB/T10030-1999
标准类型:
发布单位:CN-JB
发布日期:1999年1月1日
强制性标准:否
实施日期:2000年1月1日
关键词:光栅,位移测量系统
JB/T 10030-1999 光栅线位移测量系统.pdf
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