光栅角位移测量系统
Gratingangulardisplacementmeasuringsystem
摘要:本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。本标准适用于分辨率为0.1″～120″的测量系统。
标准编号：JB/T10034-1999
标准类型：
发布单位：CN-JB
发布日期：1999年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2000年1月1日
关键词：光栅,位移测量系统
JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统.pdf
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