JBT 10034-2012 光栅角位移测量系统

光栅角位移测量系统
Gratingangulardisplacementmeasuringsystem

摘要:本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1"、0.2"、0.5"、1"、2"、5"和10",准确度等级为±0.25"级、±0.5"级、±1"级、±2"级、±5"级、±10"级和±20"级的光栅角位移测量系统（以下简称“测量系统”）。

标准编号：JB/T10034-2012
标准类型：
发布单位：CN-JB
发布日期：2012年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2012年1月1日
关键词：光栅角位移,测量系统,精度

JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf

2024-9-24 14:32 上传 JBT 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf

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