硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Standardtestmethodsforminoritycarrierlifetimeinbulkgermaniumandsiliconbymeasurementofphotoconductivitydecay
摘要:
标准编号：GB/T1553-1997
标准类型：CF
发布单位：CN-GB
发布日期：1997年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1997年1月1日
关键词：测量,锗,单,直流电流,光电导性,硅,半导体材料,晶体,衰减,寿命,attenuators,attenuation,semiconductormaterials,life:durability,germanium,photoconductivity,fading,lifedurability,measurement,silicone,life(durability),crystals,life(durability),directcurrent,single,measuring,continouscurrent,measurements,directcurr
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法.pdf
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