GBT 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

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硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
Testmethodforcrystallographicperfectionofsiliconbypreferentialetchtechniques

摘要:

标准编号：GB/T1554-1995
标准类型：CF
发布单位：CN-GB
发布日期：1995年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1995年1月1日
关键词：晶体,硅,半导体材料,晶体缺陷,完整,腐蚀检查,semiconductormaterials,complete,crystals,crystaldefects,silicone,etchinspection,silicon

GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法.pdf

2024-9-23 01:37 上传

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化学, 晶体, 腐蚀, 完整性

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