GBT 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

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admin 发表于 2024-9-23 01:19 | 查看全部阅读模式

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsicsemiconductorsinglecrystals--MeasurementofHallmobilityandHallcoefficient

摘要:本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流户霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阳率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测最。

标准编号：GB/T4326-1984
标准类型：GB
发布单位：国家标准局
发布日期：1984年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1985年1月1日
关键词：半导体,测量,试样制备,测量仪器,非本征半导体单晶,霍尔迁移率,霍尔系数

GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法.pdf

2024-9-23 01:19 上传

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半导体, 霍尔, 迁移, 系数, 测量方法

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