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[YS有色金属] YST 426.5-2000 锑铍芯块化学分析方法.电感耦合等离子体发射光谱法测定硅量

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admin 发表于 2024-9-22 20:15 | 查看全部阅读模式

锑铍芯块化学分析方法.电感耦合等离子体发射光谱法测定硅量
Methodforchemicalanalysisofantimony-berylliumpellets.Determinationofsiliconcontent.ICP-AESmethod

摘要:本标准规定了锑铍芯块中硅量的测定方法。本标准适用于锑铍芯块半成品和成品中硅量的测定。测定范围:0.010%～0.30%。

标准编号：YS/T426.5-2000
标准类型：
发布单位：CN-YS
发布日期：2000年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2000年1月1日
关键词：锑铍芯块,化学分析,电感耦合,等离子体,发射,光谱法,硅量测定

YS/T 426.5-2000 锑铍芯块化学分析方法.电感耦合等离子体发射光谱法测定硅量.pdf

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化学分析, 发射光谱, 等离子体, 耦合, 电感

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