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[电工技术] SF6压力对GIS典型缺陷局部放电检测灵敏度的影响

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admin 发表于 2025-1-24 15:00 | 查看全部 阅读模式

SF6压力对GIS典型缺陷局部放电检测灵敏度的影响
气体绝缘开关设备(gas insulated switchgear,GIS)内部气压是影响局部放电检测灵敏度的重要因素。在局部放电实验平台中构建尖端、悬浮、气隙与沿面缺陷模型,基于特高频法、高频电流法与超声法开展气压0.2~0.5 MPa下局部放电信号特征的检测实验,并对比了高频电流法和超声法局部放电检测的灵敏度。实验结果表明:气压是影响尖端、悬浮与沿面缺陷放电的关键参数,3种缺陷放电起始电压与气压成正比,同一电压下的放电幅值和脉冲次数与气压成反比;气隙缺陷放电源于绝缘层内部气泡,因此设备气压对气隙缺陷放电影响不大。高频电流法可实现不同气压下的悬浮缺陷有效检测,但未测得气隙和尖端缺陷局部放电信号;SF6压力降低,高频电流对沿面缺陷的检测灵敏度有所提升,但仍低于特高频法。超声法可实现不同气压下的悬浮和尖端缺陷有效检测,但未测得气隙和沿面缺陷局部放电信号;SF6压力降低,超声法对尖端缺陷的检测灵敏度提高(当气压为0.2 MPa时,超声法对尖端缺陷的检测灵敏度与特高频法相当)。

标题:
SF6压力对GIS典型缺陷局部放电检测灵敏度的影响
Effect of SF6 pressure on the sensitivity of partial discharge detection of typical defects in GIS

作者:
孔凡珺,马径坦,谌珉灏,张潮海
KONG Fanjun, MA Jingtan, CHEN Minhao, ZHANG Chaohai

关键词:
气体绝缘开关设备(GIS);局部放电;绝缘缺陷;SF6压力;灵敏度;放电检测
gas insulated switchgear (GIS);partial discharge;insulation defect;SF6 pressure;sensitivity;discharge detection
2025-1-23 19:58 上传
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