配网电缆接头内部缺陷电场特征研究及电树发展分析

配网电缆接头内部缺陷电场特征研究及电树发展分析
配网交联聚乙烯(cross linked polyethylene，XLPE)电缆的严重击穿故障大多发生在电缆接头处，主要由电缆接头在制造和安装过程中的工艺缺陷引起。文中采用模拟电荷法研究电缆接头4种典型缺陷，即气隙、水膜、金属碎屑和金属外破附近的电场分布特征；然后采用电场计算与随机漫步理论相结合的方法，分析缺陷引发的电树枝的分布规律。同时，测量带缺陷配网XLPE电缆接头样本周围的实际电场分布，并比较测量结果与计算结果。结果表明，采用电场测量的方法可以直接有效地识别电缆接头内部缺陷类型，相比气隙、水膜缺陷，导电缺陷造成的电场畸变更为显著。缺陷引发的电场畸变大于临界电场值时会引起电树发展，电树发展的轨迹长度与场强大小呈正相关，导电缺陷引发的电树枝有较大概率向缆芯方向发展，更易引起XLPE绝缘击穿。

标题：
配网电缆接头内部缺陷电场特征研究及电树发展分析
Electric field characteristics investigation and electrical tree propagation of distributed network cable joint with defects

作者：
何嘉弘，何康，董博文
HE Jiahong, HE Kang, DONG Bowen

关键词：
电缆接头;电缆缺陷;模拟电荷法;电场;电树枝;随机漫步理论
cable joint;cable defects;charge simulation method;electric field;electrical tree;random walk theory

2025-1-23 19:57 上传 配网电缆接头内部缺陷电场特征研究及电树发展分析.pdf

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