基于激光诱导击穿光谱的绝缘子污秽度分析

基于激光诱导击穿光谱的绝缘子污秽度分析
污秽闪络是威胁电力系统安全的主要因素之一，为了预防污闪事故的发生，需要定期对绝缘子表面的污秽度进行检测，但传统的停电取样检测周期长，耗费大量人力物力。文中提出一种利用激光诱导击穿光谱(LIBS)技术对绝缘子表面污秽度进行分析的方法。以10个带有不同等值盐密、等值灰密的自然污秽玻璃绝缘子为主要研究对象，将其上表面分为内、中、外环3个区域，研究不同测试策略下定标模型的相关系数，采用Na 589.592 nm、Al 396.192 nm作为特征谱线，发现对于盐密的检测定标模型，采用内、中环联合区域的测试策略，相关系数可达0.948 1,检测相对误差在5%以内；对于灰密的检测定标模型，采用中环独立区域的测试策略，相关系数可达0.938 3，检测相对误差在15%以内。该分析手段能实现现场快速分析绝缘子表面污秽度，提升输电线路运行安全维护作业能力，具有重要的工程应用价值。

标题：
基于激光诱导击穿光谱的绝缘子污秽度分析
Insulator contamination analysis based on laser-induced breakdown spectroscopy

作者：
晋涛，芦山，刘星廷，何永琪，王希林，贾志东
JIN Tao, LU Shan, LIU Xingting, HE Yongqi, WANG Xilin, JIA Zhidong

关键词：
等值盐密(ESDD);等值灰密(NSDD);激光诱导击穿光谱(LIBS);自然污秽;定标模型;测试策略
equivalent salt deposit density (ESDD);non-soluble deposit density (NSDD);laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS);natural pollution;calibration model;strategy of test

2025-1-23 19:53 上传 基于激光诱导击穿光谱的绝缘子污秽度分析.pdf

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