GIS中金属微粒诱发沿面局部放电发展过程的研究

GIS中金属微粒诱发沿面局部放电发展过程的研究
局部放电的检测和识别对气体绝缘全封闭组合电器（GIS）运行状况的监测起着至关重要的作用。金属微粒缺陷是一种极易引发GIS局部放电的典型缺陷。文中主要研究金属微粒诱发的GIS内局部放电沿面爬电的发展过程。为此，根据GIS实际运行条件，搭建GIS模拟实验平台，采用阶梯升压法划分试验阶段，利用脉冲电流法检测各阶段下的局部放电模式，与此同时架设增强型电荷耦合检测器相机（ICCD）实时记录金属微粒局部放电的沿面发展过程，并采用K-Means聚类算法结合特征参量对其发展过程进行划分。结果表明GIS盆式绝缘子上金属微粒的沿面局部放电演变过程分为3个阶段：电晕放电主导阶段、电晕与流注放电并存阶段和流注放电主导阶段。

标题：
GIS中金属微粒诱发沿面局部放电发展过程的研究
PD creeping discharge development process induced by metallic particles in GIS

作者：
陈予伦，常丁戈，杨鼎革，张冠军
CHEN Yulun, CHANG Dingge, YANG Dingge, ZHANG Guanjun

关键词：
气体绝缘全封闭组合电器(GIS);金属微粒缺陷;局部放电;沿面放电;盆式绝缘子
gas in-sulated switchgear (GIS);metallic particle defect;partial discharge;surface discharge;basin insulator

2025-1-23 19:46 上传 GIS中金属微粒诱发沿面局部放电发展过程的研究.pdf

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