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[金属工艺] X射线照相技术的检测参数系统全景设计

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admin 发表于 2025-1-19 14:51 | 查看全部阅读模式

X射线照相技术的检测参数系统全景设计
摘要：根据X射线照相曝光曲线的技术特点，形成了X射线照相技术的检测参数系统全景设计。在全景设计图上可以进行设备的选用及性能比较，确定具体的透照参数，预设底片黑度结果，明确具体工艺的影像清晰度。提出了“球锥场”与“圆锥场”结合的分析方法，以全景设计图为基础可以开发检测参数分析软件，实现不同厚度工件的组合检测。

标题：X射线照相技术的检测参数系统全景设计

作者：刘小明,韩壮壮,申国庆,杜建国,魏锦涛,

关键词：X射线照相,全景设计,分析软件,组合检测,

发表日期：2019年6月

2025-1-19 14:51 上传

X射线照相技术的检测参数系统全景设计.pdf

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射线, 照相, 技术, 检测, 参数

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