[金属工艺] 叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法

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admin 发表于 2025-1-19 14:36 | 查看全部阅读模式

叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法
摘要：某机压气机转子叶片在荧光渗透检测时发现荧光背景过度的现象，经过第一次除氧化膜和第二次除氧化膜返修处理后，查找出背景过度的原因是叶片表面氧化膜未去除干净。因此，在压气机转子叶片的荧光渗透检测前增加了目视检查工艺，确保叶片表面氧化膜去除干净。

标题：叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法

作者：徐亚亚,刘兴勇,

关键词：荧光渗透检测,氧化膜,预清洗,荧光背景过度,

发表日期：2018年5月

2025-1-19 14:36 上传

叶片荧光渗透检测背景过度的产生原因及改进方法.pdf

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叶片, 荧光, 渗透, 检测, 背景

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