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[金属工艺] GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测

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admin 发表于 2025-1-19 14:31 | 查看全部阅读模式

GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测
摘要：利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测，在不拆解和破坏GIS （气体绝缘全封闭组合电器）设备的情况下，实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测；利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置，减少了试验次数，提高了试验效率。结果表明，X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。

标题：GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测

作者：钟飞,张晓春,黄升平,张梦岑,王冲,聂铭,李顺华,刘国特,

关键词：X-DR成像技术,盆式绝缘子,无损检测,正交试验,缺陷检测,

发表日期：2018年1月

2025-1-19 14:31 上传

GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测.pdf

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GIS, 盆式, 绝缘子, 模拟, 缺陷

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