闭锁体磁粉检测黑色线磁痕产生原因
摘要：在对火箭炮用闭锁体进行磁粉检测时, 批量出现疑似裂纹的黑色线磁痕。经低倍检验、光学显微镜及扫描电镜分析后发现, 黑色线磁痕的形成是由于负偏析引起, 不是裂纹, 属于非相关显示。结果表明: 只要连铸时选择合适的电磁搅拌强度和搅拌时间, 就可以减轻负偏析。
标题：闭锁体磁粉检测黑色线磁痕产生原因
作者：张彦文,张友登,杨志婷,陶勇,
关键词：磁粉检测,黑色线磁痕,负偏析,磁导率,裂纹,
发表日期：2016年9月
- 文件大小:
- 12.86 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
