[金属工艺] 二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸

7 0

admin 发表于 2025-1-19 14:00 | 查看全部阅读模式

二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸将设备缺陷分成表面缺陷与内部缺陷两种情况进行讨论，表面缺陷尺寸直接利用三角形相似定理进行计算，而内部缺陷则需用二次透照方法所得的图形利用两次三角形相似定理进行计算。最后将设备解体(即打开罐体)后直接对缺陷进行测量，将这直接测量值与以前透照方法所得的计算值进行比较，验证了该方法的准确性。

标题：二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸

作者：郭铁桥,郭涛涛,王达达,高阔,于虹,吴章勤,

关键词：X射线,缺陷尺寸,计算方法,

发表日期：2013年5月

2025-1-19 14:00 上传

二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸.pdf

文件大小:: 1.61 MB

下载次数:: 60

高速下载

二次, 射线, 照相, 计算, 支撑

【温馨提示】您好！以下是下载说明，请您仔细阅读：
1、推荐使用360安全浏览器访问本站，选择您所需的PDF文档，点击页面下方“本地下载”按钮。
2、耐心等待两秒钟，系统将自动开始下载，本站文件均为高速下载。
3、下载完成后，请查看您浏览器的下载文件夹，找到对应的PDF文件。
4、使用PDF阅读器打开文档，开始阅读学习。
5、使用过程中遇到问题，请联系QQ客服。

本站提供的所有PDF文档、软件、资料等均为网友上传或网络收集，仅供学习和研究使用，不得用于任何商业用途。
本站尊重知识产权，若本站内容侵犯了您的权益，请及时通知我们，我们将尽快予以删除。

[金属工艺] 二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸

相关帖子

能源电力

化工

建筑工程

机械

电子信息

医药

科学