[金属工艺] 基于独立分量分析的X射线图像增强方法

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admin 发表于 2025-1-19 13:44 | 查看全部阅读模式

基于独立分量分析的X射线图像增强方法
为了改善由于散射造成的X射线检测图像对比度低, 被测工件细节不易显示等缺点。针对退化图像中散射的分离, 提出一种盲参数估计分离散射算法, 该算法在假定图像由独立散射光谱组成的基础上, 通过对散射偏振分析建立盲分离模型, 来实现X射线图像的增强。采用小波变换得到图像子带图像, 对盲参数间接估计。理论分析和实验结果表明, 该算法在抑制散射的基础上有效的提高了图像的对比度和清晰度。

标题：基于独立分量分析的X射线图像增强方法

作者：刘彦,王黎明,刘斌,

关键词：独立分量分析,X射线图像,散射,偏振分析,信号处理,

发表日期：2009年6月

2025-1-19 13:44 上传

基于独立分量分析的X射线图像增强方法.pdf

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