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[金属工艺] 基于独立分量分析的缺陷信号串扰消除

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admin 发表于 2025-1-19 13:28 | 查看全部 阅读模式

基于独立分量分析的缺陷信号串扰消除
漏磁检测设备中纵向传感器阵列特殊的物理结构, 使得采集的缺陷信号之间不可避免地产生串扰, 因而降低了检测设备的可靠性。结合采集信号的阵列特性, 通过使用基于独立分量分析(ICA)的阵列信号处理方法, 分离出各路消除串扰的源信号。仿真试验结果表明, ICA 的定点算法可以消除信号之间的串扰, 满足检测设备要求, 具有较大的应用潜能。

标题:基于独立分量分析的缺陷信号串扰消除

作者:查君君,何辅云,

关键词:独立分量分析,定点算法,漏磁检测,缺陷信号,串扰消除,

发表日期:2010年5月
2025-1-19 13:28 上传
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