[金属工艺] X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析

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admin 发表于 2025-1-19 13:00 | 查看全部阅读模式

X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析
工业计算机断层扫描成像中，由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时，能量较低的射线优先被吸收，也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小，射线随透射厚度增大，变得更易穿透，即发生了能谱硬化现象。对能谱硬化现象进行了分析，利用Beer定律和X射线与物质作用的特点，提出了能谱硬化修正模型和数值分析，结合Simpson公式，导出了X射线TICT中修正模型的数值解法及其修正方法。对修正后的衰减系数再作卷积反投影重构，即可有效消除能谱硬化造成的影响。

标题：X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析

作者：彭光含,蔡新华,杨学恒,

关键词：X射线,工业计算机断层扫描成像技术,硬化修正,Simpson公式,

发表日期：2007年8月

2025-1-19 12:09 上传

X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析.pdf

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射线, TICT, 中能, 硬化, 修正

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