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[金属工艺] 基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析

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admin 发表于 2025-1-19 13:00 | 查看全部 阅读模式

基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析
成像速度是中子冷阴极放电器(CCD)数字照相系统的主要性能参数。根据中子数字照相的原理、光学成像的基本关系式和CCD的特性,提出了一种基于CCD的中子数字照相系统的成像速度理论推算方法,对SPRR300中子数字照相系统成像速度进行了计算,并与试验结果相比较证明,理论计算与试验基本吻合,计算方法可信。

标题:基于CCD的中子数字照相系统成像速度分析

作者:唐彬,李西安,霍合勇,薛斌,

关键词:射线检验,中子照相,CCD,成像速度,

发表日期:2007年1月
2025-1-19 12:06 上传
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