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[金属工艺] 基于频谱分析的脉冲涡流检测提离消除技术

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admin 发表于 2025-1-19 13:00 | 查看全部 阅读模式

基于频谱分析的脉冲涡流检测提离消除技术
脉冲涡流检测中由于探头倾斜等原因容易产生提离效应,严重影响缺陷的定量精度。利用激励脉冲频率成分丰富的特点,提出了一种基于频谱分析的提离效应消除新方法。通过试验发现,经该方法处理后的有提离的原始检测信号在低频部分已基本重合,消除了提离效应对低频的影响,且可通过提取低频特征值对缺陷的深度进行定量。试验结果证明,该方法可以有效地消除提离效应, 提高缺陷的定量检测精度。

标题:基于频谱分析的脉冲涡流检测提离消除技术

作者:李斌,王晓锋,荆炳礼,

关键词:脉冲涡流检测,提离效应,频谱分析,低频峰值,

发表日期:2008年12月
2025-1-19 12:05 上传
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