[金属工艺] 一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法

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admin 发表于 2025-1-19 13:00 | 查看全部阅读模式

一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法
分析了JB/T 4730—2005标准对两类检测技术级别的规定。应用曝光曲线、胶片特性曲线方程以及技术级别的规定，建立了几何、物理透照参数间的函数关系。讨论了同时满足JB/T 4730—2005标准规定的透照厚度比K值与黑度范围ΔD0所需的参数条件。提出一种选择射线检测参数的优化方法，并通过实验进行了验证。结果表明，应用该方法可对检测参数优化，且使标准对技术级别的规定得到满足，解决了射线检测中分立选择几何、物理透照参数存在的问题。

标题：一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法

作者：张小海,张维,余海根,

关键词：射线检测,技术级别,检测参数,优化,

发表日期：2008年6月

2025-1-19 12:01 上传

一种基于检测技术级别的射线检测参数优化方法.pdf

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