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[综合] 新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用

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admin 发表于 2025-1-19 13:00 | 查看全部 阅读模式

新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用
介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在焊缝和铸件的工业射线实时成像(RTR)检测中的应用。试验结果证明,选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率。

标题:新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用

作者:李衍,

关键词:非晶硅(a-Si),平板探测器,图像增强器,射线实时成像,射线直接数字成像,像质计灵敏度,空间分辨率,

发表日期:2006年9月
2025-1-19 11:56 上传
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