[电子元器件与信息技术] 半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM） GBT 4937.27-2023

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admin 发表于 2024-12-28 14:29 | 查看全部阅读模式

半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM） GBT 4937.27-2023

2024-12-28 14:29 上传

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半导体, 放电, GBT, MM, 模型

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