文档名：级联MOSFET均压测试方法研究
摘要：文章分析了传统均压测试方法中,隔离高压探头寄生参数对级联MOSFET均压效果的影响.通过改变同一高边MOSFET的DS电压测试探头数量,分析了测试方法引入寄生参数的变化对瞬态均压的干扰程度.基于此提出了一种减法均压测试方法,并对所提出的减法均压测试方法的优化进行了分析与实验验证.实验结果表明该测试方式能精确评估级联MOSFET在稳态以及开通、关断瞬态的均压效果,且不受测试线缆寄生参数的影响.
Abstract：Inthispaper,theinfluenceofisolatedhigh-voltageprobeparasiticparametersonthecascadedMOSFETsvolt-age-sharingintraditionalvoltage-sharingtestmethodisinvestigated.BychangingthenumberofVDSmeasuringprobesinthesamehigh-sideMOSFET,theinterferencedegreeoftheparasiticparametersintroducedintothetestmethodtothetransientvoltage-sharingisanalyzed.Onthisbasis,atestmethodofvoltage-sharingbysubtractionisproposed,anditsoptimizationisanalyzedandverifiedbyexperiments.Theexperimentalresultsshowthattheproposedmethodcanaccu-ratelyevaluatethevoltage-sharingeffectofcascadedMOSFETsinsteadystateandON/OFFtransients,anditisnotaffect-edbytheparasiticparametersofthetestcable.
作者：付明 王子才 张华 张东来 Author：FUMing WANGZicai ZHANGHua ZHANGDonglai
作者单位：哈尔滨工业大学航天学院,哈尔滨150001;深圳航天科技创新研究院,广东深圳518057哈尔滨工业大学航天学院,哈尔滨150001深圳航天科技创新研究院,广东深圳518057哈尔滨工业大学(深圳)机电工程与自动化学院,广东深圳518055
刊名：电测与仪表
Journal：ElectricalMeasurement&Instrumentation
年，卷(期)：2024, 61(1)
分类号：TM343
关键词：级联MOSFET 均压测试 高压开关 寄生参数
Keywords：cascadedMOSFETs voltage-sharingtest high-voltageswitch parasiticparameter
机标分类号：TM461O343.5TN322.8
在线出版日期：2024年2月3日
基金项目：国家自然科学基金，深圳市科技计划项目，国家科技重大专项级联MOSFET均压测试方法研究[
期刊论文] 电测与仪表--2024, 61(1)付明 王子才 张华 张东来文章分析了传统均压测试方法中,隔离高压探头寄生参数对级联MOSFET均压效果的影响.通过改变同一高边MOSFET的DS电压测试探头数量,分析了测试方法引入寄生参数的变化对瞬态均压的干扰程度.基于此提出了一种减法均压测试方...参考文献和引证文献
参考文献
引证文献
本文读者也读过
相似文献
相关博文
级联MOSFET均压测试方法研究 Study on cascaded MOSFETs voltage-sharing test method
级联MOSFET均压测试方法研究.pdf
- 文件大小:
- 3.23 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
