文档名：一种电子标签的加速寿命试验可靠性预测方法研究
摘要：随着微电子元器件设计能力和工艺技术的不断发展,器件的可靠性和寿命不断增加.射频识别电子标签具有需求量大、应用范围广、地域(使用温度)跨度大等特点,这就对产品本身的可靠性提出了较高的要求,研究器件在高低温下的退化特性具有重要的现实意义.基于Arrhenius理论提出了一种快速计算电子标签激活能的方法,对电子标签进行短时间的寿命加速试验,通过标签电场强度性能的退化数据预测寿命情况,快速求解电子标签的激活能,进而计算出不同温度条件下的加速因子,为电子标签在不同寿命评价标准下的加速试验时间提供理论依据.
Abstract：Withthecontinuousdevelopmentofmicroelectroniccomponentsdesigncapabilityandprocesstechnology,thereliabil-ityandlifeofthedeviceisincreasing.RadioFrequencyIdentification(RFID)tagsarecharacterizedbyhighdemand,widerangeofapplications,andwidegeographical(usetemperature)span,whichputshighdemandsonthereliabilityoftheproduct,anditisofgreatpracticalsignificancetostudythedegradationcharacteristicsathighandlowtemperatures.BasedonArrheniustheory,thispaperproposesamethodtoquicklycalculatetheactivationenergyofelectronictags,tocarryoutashorttimelifeaccelera-tiontestonelectronictags,topredictthelifesituationthroughthedegradationdataofthetag'selectricfieldstrengthperfor-mance,toquicklysolvethevalueofactivationenergyoftheelectronictags,andthentocalculatetheaccelerationfactorunderdifferenttemperatureconditions,whichprovidesatheoreticalbasisfortheacceleratedtesttimeforelectronictagsunderdifferentlifeevaluationstandards.
作者：付利莉 董雪鹤 牛长胜 梁昭庆 白雪松 崔岚Author：FuLili DongXuehe NiuChangsheng LiangZhaoqing BaiXuesong CuiLan
作者单位：北京智芯微电子科技有限公司,北京100090;国家电网有限公司,北京100031
刊名：电子技术应用
Journal：ApplicationofElectronicTechnique
年，卷(期)：2024, 50(4)
分类号：TP212
关键词：寿命加速 激活能 性能退化 快速计算
Keywords：lifetimeacceleration activationenergy degradationofperformance quickcalculation
机标分类号：O3TP311.52TB114.3
在线出版日期：2024年4月26日
基金项目：一种电子标签的加速寿命试验可靠性预测方法研究[
期刊论文] 电子技术应用--2024, 50(4)付利莉 董雪鹤 牛长胜 梁昭庆 白雪松 崔岚随着微电子元器件设计能力和工艺技术的不断发展,器件的可靠性和寿命不断增加.射频识别电子标签具有需求量大、应用范围广、地域(使用温度)跨度大等特点,这就对产品本身的可靠性提出了较高的要求,研究器件在高低温下的退化...参考文献和引证文献
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