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用X荧光光谱仪测试浮法玻璃化学成份的方法探索

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admin 发表于 2024-12-11 21:20 | 查看全部 阅读模式

文档名:用X荧光光谱仪测试浮法玻璃化学成份的方法探索
对0.7mm后的浮法玻璃逐步减薄,采用X荧光光谱测试不同减薄厚度玻璃的化学成分.研究发现,在表面1μm内Na2O的含量随减薄厚度的增加而逐步降低,1μm之后Na2O的含量趋于稳定,从而获得测试玻璃体内的真实成分的方法.经比较,采用减薄后X荧光光谱测试的Na2O的含量与传统湿法分析相一致.
作者:王世友胡正宜田普强张晓燕
作者单位:四川旭虹光电科技有限公司,四川621000
母体文献:2016光电子玻璃及材料技术交流研讨会论文集
会议名称:2016光电子玻璃及材料技术交流研讨会  
会议时间:2017年1月7日
会议地点:北京
主办单位:中国硅酸盐学会
语种:chi
分类号:O65TN1
关键词:浮法玻璃  化学成份  X荧光光谱仪  减薄厚度
在线出版日期:2017年12月4日
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