文档名：用X荧光光谱仪测试浮法玻璃化学成份的方法探索
对0.7mm后的浮法玻璃逐步减薄,采用X荧光光谱测试不同减薄厚度玻璃的化学成分.研究发现,在表面1μm内Na2O的含量随减薄厚度的增加而逐步降低,1μm之后Na2O的含量趋于稳定,从而获得测试玻璃体内的真实成分的方法.经比较,采用减薄后X荧光光谱测试的Na2O的含量与传统湿法分析相一致.
作者：王世友胡正宜田普强张晓燕
作者单位：四川旭虹光电科技有限公司,四川621000
母体文献：2016光电子玻璃及材料技术交流研讨会论文集
会议名称：2016光电子玻璃及材料技术交流研讨会
会议时间：2017年1月7日
会议地点：北京
主办单位：中国硅酸盐学会
语种：chi
分类号：O65TN1
关键词：浮法玻璃 化学成份 X荧光光谱仪 减薄厚度
在线出版日期：2017年12月4日
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