文档名：一种面向片上向量存储器的UVM验证平台
随着嵌入式微处理器的不断发展,片上存储器的设计复杂度日趋增长,传统的功能验证方法面临着验证效率低、完备性、可重用性等各方面挑战.论文针对自主设计的FT_M系列高性能DSP片上向量存储器设计需求,基于UVM验证方法学,采用层次化建模方式搭建参数化的UVM验证平台,利用定向激励与带约束的随机激励相结合的方式测试不同访存模式下的正确性;提高了验证的验证效率和验证平台的可重用性.
作者：侯林涛陈海燕李明陈俊杰
作者单位：国防科技大学计算机学院长沙410073
母体文献：第二十三届计算机工程与工艺年会论文集
会议名称：第二十三届计算机工程与工艺年会
会议时间：2019年8月15日
会议地点：湖北恩施
主办单位：中国计算机学会
语种：chi
分类号：
关键词：片上向量存储器 UVM验证平台 参数化建模 访存性能
在线出版日期：2022年1月20日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 800.34 KB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
