文档名：压敏电阻脉冲电流降额曲线数学模型研究
本文关于多次脉冲间隔时间对压敏电阻冲击过程中的温度变化以及温度对压敏电压变化率和漏电流的影响进行了初步的探索性研究,研究揭示了冲击温度变化幅度DTemp对压敏电压的变化率有比较大的影响,而高的冲击温度对漏电流有较大的影响.关于压敏电阻脉冲电流降额曲线,本文在2015年研究的基础上,用数学回归分析方法,建立数学模型,再根据统计学的置信区间(CI)和预测区间(PI),估算出产品在大量测试中可能达到的下限值,由此定出产品多次脉冲电流的规范值,避免了人为的因素,建立了一种科学、客观、严谨的测试方法,并用此方法对新开发的高压压敏电阻的电流脉冲能力进行了实验验证和测试.
作者：刘树英 颜健 吕继彬 谭勃 DavidZhang
作者单位：东莞令特电子有限公司东莞523925LittelfuseChicagoUSA60631
母体文献：中国电子学会传感与微系统技术分会电压敏专业学部第二十五届学术年会论文集
会议名称：中国电子学会传感与微系统技术分会电压敏专业学部第二十五届学术年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：福州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TN1TV6
关键词：压敏电阻 脉冲电流 降额曲线 测量方法
在线出版日期：2021年12月15日
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