文档名：压敏电阻结构对TOV寿命特性的影响
本文研究氧化锌压敏电阻器芯片的TOV寿命特性.通过选取产品一致性良好的压敏电阻芯片14D561,试验其在不同幅值的交流TOV过电流、不同的持续时间条件下的TOV寿命(TOV冲击次数).试验还研究了TOV寿命特性过程中压敏电压、非线性指数和漏电流的变化趋势,指出压敏电阻的TOV寿命过程中,三参数的变化没有太大的劣化,失效机理主要是热失控.
作者：张俊峰杜静
作者单位：陕西华星电子集团有限公司咸阳712099
母体文献：中国电子学会传感与微系统技术分会电压敏专业学部第二十五届学术年会论文集
会议名称：中国电子学会传感与微系统技术分会电压敏专业学部第二十五届学术年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：福州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TQ1TP2
关键词：压敏电阻 TOV冲击次数 使用寿命 失效模式
在线出版日期：2021年12月15日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 1.8 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
