文档名：线纹计量中的对准技术
介绍了线纹对准技术的发展以及典型线的纹对准技术及方法,分析各种线纹对准的技术特点及其适用范围.刻线种类的多样性决定了对准方法的多样性,线纹计量的对准技术的发展朝着多元化方向发展.对一些新型特殊的线纹测量器具(微密线纹测量和宽线单边对准测量),介绍了基于光电扫描的对准测量方法.线纹光电自动对准技术可以拓展应用到其它非线纹一维几何参量的计量.
作者：高宏堂 孙双花 沈雪萍 魏冰莹
作者单位：中国计量科学研究院,北京100029;北京航空航天大学,北京100191中国计量科学研究院,北京100029北京市机电产品标准质量监测中心,北京100027
母体文献：2017全国几何量精密测量技术学术交流会论文集
会议名称：2017全国几何量精密测量技术学术交流会
会议时间：2017年9月1日
会议地点：甘肃酒泉
主办单位：中国计量测试学会
语种：chi
分类号：
关键词：长度测量 线纹尺 自动对准 光电扫描
在线出版日期：2020年10月26日
基金项目：
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