文档名：外层非欠蚀短路原因分析及改善
随着AOI(自动光学检查机)技术的普及,外层图转产生的断、短路在AOI都可拦截,所以通断测试检出的断、短路基本为内层或导通孔的缺陷,但近期通断测试找点时,连续突发批量外层短路,且过程无异常.文章从人、机、物、法、环入手,找出外层短路的突发原因,并实施改善.
作者：赵宇
作者单位：天津普林电路股份有限公司,天津300308
母体文献：2017中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术/信息论坛论文集
会议名称：2017中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术/信息论坛
会议时间：2017年10月1日
会议地点：广东东莞
主办单位：中国印制电路行业协会
语种：chi
分类号：
关键词：印制电路板 外层短路 自动光学检查机 通断测试
在线出版日期：2020年10月27日
基金项目：
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