文档名：饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测
采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究.银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T17832-2008)的检测结果吻合.
作者：吴奕阳 杨鹔 黄国芳
作者单位：国家金银制品质量监督检验中心(上海),上海市计量测试技术研究院,上海200233国家金银制品质量监督检验中心(南京),南京市产品质量监督检验院,南京210018
母体文献：2018年中国贵金属论坛论文集
会议名称：2018年中国贵金属论坛
会议时间：2018年11月1日
会议地点：云南瑞丽
主办单位：中国有色金属学会
语种：chi
分类号：
关键词：饰品检测 银含量 覆盖层厚度 X射线荧光法
在线出版日期：2021年12月15日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 193.9 KB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
