文档名：某整机产品电磁瞬态干扰评价方法
针对“某整机家电类电子产品”在生产过程中出现的“闪屏”“死机”等问题在实验室难以复现的现象,本文设计了一套评估产品故障的瞬态抗扰试验方法.在进行了整机实测干扰源强度和分析耦合效率的基础上,结合IEC62215-3开展了瞬态干扰对集成电路(MCU)的影响试验,通过对实验现象的分析,总结出瞬态干扰引起整机产线失效的根本原因,同时给出了芯片关键引脚对瞬态干扰的抗扰性数据,用于支撑整机内部的电磁可靠性设计.
作者：邵伟恒 李广伟 邵鄂 方文啸
作者单位：工业和信息化部电子第五研究所广州510610工业和信息化部电子第五研究所广州510610;华南理工大学广州510641
母体文献：第26届全国电磁兼容会议论文集
会议名称：第26届全国电磁兼容会议
会议时间：2018年10月13日
会议地点：重庆
主办单位：中国通信学会,中国电子学会
语种：chi
分类号：TN0TP3
关键词：电子产品 电磁兼容 集成电路 瞬态抗扰
在线出版日期：2021年8月24日
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