文档名：考虑产品初始优良性的加速退化试验评估与设计
加速退化试验(ADT)为长寿命、高可靠产品的可靠性评估提供了有效的信息补充,此类信息的充分利用可以有效地提升产品的可靠性评估精度并进一步优化相似产品的加速退化试验方案.现有的典型模型和分析中通常假设被测产品制造过程的一致性水平较高,进而忽略产品初始性能的个体差异.然而工程中会遇到产品初始状态有明显的优良差异,而且该状态对后续退化过程会有影响:初始状态较好的产品在测试过程中退化较慢(或者相反),即产品初始状态与退化速率相关.这意味着此类产品加速退化试验前便可以获得产品的可靠性相关信息.本文基于现有典型加速退化试验模型与分析过程,引入产品初始优良性的信息来进行可靠性评估与试验方案设计,研究结果证明产品初始优良性信息的引入可提升可靠性评估的精度,考虑这一信息的试验方法可以进一步优化试验方案.同时以晶体管这个典型电子产品为例进行分析,进一步例证该方法的有效性.
作者：王成杰胡庆培于丹
作者单位：中国科学院数学与系统科学研究院,北京,100190
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：O21P20
关键词：电子产 初始优良性 加速退化试验 方案设计
在线出版日期：2021年12月15日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 1.35 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
