文档名：集成电路安全隐患检测研究
集成电路是构建信息系统的基石,集成电路安全隐患是威胁信息系统安全的重要来源.集成电路的主要安全隐患包括以设计漏洞为代表的被动式安全隐患,以及以恶意性更强、危害更大的硬件木马为代表的主动式安全隐患.对集成电路安全隐患检测的研究现状,包括硅前硬件木马检测、硅后硬件木马检测、伪造芯片检测等进行了简要介绍.最后,对已有研究面临的主要问题和严峻挑战进行了分析,并对集成电路安全隐患检测韵发展趋势进行了展望.
作者：叶靖邱颖鑫韩银和李晓维
作者单位：中国科学院计算技术研究所体系结构国家重点实验室,北京100190
母体文献：全国计量测试技术学术交流会论文集
会议名称：全国计量测试技术学术交流会
会议时间：2016年5月1日
会议地点：北京
主办单位：中国计量测试学会
语种：chi
分类号：TP3TM1
关键词：集成电路 硬件木马 伪造芯片 安全检测
在线出版日期：2020年5月31日
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