文档名：基于半导体制冷片的Zeta电位测量仪温控系统设计
Zeta电位测量仪在纳米颗粒表征中有重要作用,而温度是影响纳米颗粒Zeta电位测量的关键因素.为了提高纳米颗粒Zeta电位测量的准确性,本文设计了基于半导体制冷片的纳米颗粒温度控制系统.本系统由STM32F103主控模块、温度检测模块、半导体制冷片、半导体驱动电路(H桥)以及PC上位机等组成.温度控制算法采用位置式PID算法,能够根据先前的温度采样值计算控制量,通过控制PWM的脉宽进而控制半导体制冷片的工作状态,从而调节样品池颗粒的温度.该温度控制系统具有功耗低、体积小、性能稳定可靠的特点、方便使用,而上位机基于LabVIEW设计,也方便进行二次开发.
作者：徐炳权韩鹏邱健彭力
作者单位：华南师范大学物理与电信工程学院,广东广州510006
母体文献：2018粤港澳大湾区智能检测与协同创新青年论坛论文集
会议名称：2018粤港澳大湾区智能检测与协同创新青年论坛
会议时间：2018年8月1日
会议地点：广州
主办单位：中国仪器仪表学会
语种：chi
分类号：TP3TH1
关键词：Zeta电位测量仪 温度控制系统 半导体制冷片 硬件设计 软件开发
在线出版日期：2021年12月15日
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