文档名：超声相控阵缺陷分析及评判技术探讨
超声相控阵技术的缺陷分析及评判是超声相控阵技术应用的关键点,介绍了超声相控阵图像显示的主要类型,分析了相控阵图像显示缺陷的基本特征,介绍了相控阵检测技术能够得到缺陷特征信息,介绍了目前国际上超声相控阵技术缺陷评判标准的现状,探讨了将超声相控阵技术得到的所有缺陷特征信息用于评判的可行性.
作者：钟德煌
作者单位：通用电气检测控制技术(上海)有限公司,上海市,201203
母体文献：2019中国超声检测大会论文集
会议名称：2019中国超声检测大会
会议时间：2019年6月12日
会议地点：西宁
主办单位：中国机械工程学会
语种：chi
分类号：TG1TG4
关键词：超声相控阵 缺陷分析 评判标准
在线出版日期：2022年9月21日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 426.46 KB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
