文档名：磁粉探伤中的若干智能化应用研究
磁粉探伤许多工艺参数一直是人工定期检查,导致磁粉探伤无法实现高度的自动化,并带来检测效果的不确定性.随着科学技术和先进制造业的飞速发展,尤其在半导体行业和IT行业的推动下,许多过去成熟的磁粉探伤过程参数及控制往数字化、智能化方向发展.本文就磁粉探伤的若干智能化应用进行了研究.介绍了三种智能的磁粉工艺参数监控技术在轴承套圈磁粉探伤中的应用.最后,对这些技术智能化检测应用前景进行了讨论.
作者：李龙 方海 杨芸
作者单位：华中科技大学,武汉430074沪东重机计量检测中心,上海201206
母体文献：2017远东无损检测新技术论坛论文集
会议名称：2017远东无损检测新技术论坛
会议时间：2017年6月1日
会议地点：西安
主办单位：陕西省质量技术监督局,西安交通大学
语种：chi
分类号：TP2V26
关键词：轴承套圈 磁粉探伤 智能监测仪 智能测磁仪 智能黑光灯
在线出版日期：2021年3月22日
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