文档名：电子元器件加速寿命试验综述
加速寿命试验是一种可在短时间内获得产品失效数据的方法.本文综述了加速寿命试验的前提、寿命分布、加速应力、加速模型、加速因子和加速寿命试验分类.通过恒定应力加速寿命试验实例,推算产品正常应力下的寿命特征值.
作者：孙丹峰 季幼章
作者单位：苏州市电通电力电子有限公司苏州215011中国科学院等离子体物理研究所合肥230031
母体文献：中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十四届学术年会论文集
会议名称：中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十四届学术年会
会议时间：2017年11月7日
会议地点：三亚
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TP3TP2
关键词：电子元器件 加速寿命试验 失效机理 失效模式 寿命特征值
在线出版日期：2021年3月22日
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