文档名：顶喷蚀刻0.4T及以下产品工装缺陷解决方案
近年来,随着手机从按键式向触摸屏转变,对手机屏的要求也越来越高,面板生产厂家为提高产量,面板也开始朝越来越大的方向发展,从早期的G3代线到G4.5代线、G6代线、G8.5代线,因此对薄化厂家提出新的挑战.为降低采用顶喷方式蚀刻的产品在蚀刻过程不会出现两张玻璃相互贴合的风险,以及随着薄化量的增加产品倒塌的风险,薄化技术人员在CST架子中部增加了顶针加固装置来进行固定产品,但新问题随之产生即顶针会造成产品cell区域中部位置出现顶针印记不良.为解决此现象,技术人员通过研究测试,在CST架子上增加新的定位装置,既可以解决产品倒塌和贴合的问题,又可以解决产品中部出现顶针印记缺陷的问题,减少后制程中产品的破损.
作者：左虎彭涛万长明张永强
作者单位：成都工投电子科技有限公司
母体文献：2015光电子玻璃及材料技术交流研讨会论文集
会议名称：2015光电子玻璃及材料技术交流研讨会
会议时间：2015年9月16日
会议地点：重庆
主办单位：中国硅酸盐学会
语种：chi
分类号：TS1TM9
关键词：面板玻璃 顶喷蚀刻技术 工装缺陷 定位装置
在线出版日期：2016年6月21日
基金项目：
相似文献
相关博文
- 文件大小:
- 1.27 MB
- 下载次数:
- 60
-
高速下载
|
|
