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IC封装基板的开发与性能研究

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admin 发表于 2024-12-9 11:50 | 查看全部 阅读模式

IC封装基板的开发与性能研究.pdf
以国产化特种树脂为主体,开发了一款高Tg、高耐热、低热膨胀系数的无卤覆铜板,表征和分析了基板的介电性能、耐热性能、热膨胀系数、耐湿热性能.用热机械分析仪(TMA)测试了板材的X/Y方向热膨胀系数为10.0ppm/℃,其性能满足高性能IC封装基板的要求.
作者:王东林王岳群
作者单位:广东汕头超声电子股份有限公司覆铜板厂广东汕头
母体文献:2020年第二十一届中国覆铜板技术研讨会论文集
会议名称:2020年第二十一届中国覆铜板技术研讨会  
会议时间:2020年11月1日
会议地点:广东四会
主办单位:中国电子材料行业协会,中国电子电路行业协会
语种:chi
分类号:TQ3TM2
关键词:芯片封装基板  制作工艺  原材料选择  性能表征
在线出版日期:2021年8月24日
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