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Ge材料导带电子的晶格振动散射

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admin 发表于 2024-12-9 11:34 | 查看全部 阅读模式

Ge材料导带电子的晶格振动散射.pdf
载流子的散射机制对锗材料的迁移率及光学性质具有重要的影响.本文通过构建直接带(Г)能谷谷内散射、间接带L能谷谷内散射以及(Г)能谷与L能谷之间的声子散射模型,计算载流子不同类型的散射几率,为能带改性锗材料在微电子、光电子等领域提供理论参考价值.
作者:黄诗浩 谢文明 汪涵聪 林光杨 王佳琪 黄巍 李成
作者单位:福建工程学院,信息科学与工程学院,福建福州,350118厦门大学,物理科学与技术学院,福建厦门,361005
母体文献:第十二届全国硅基光电子材料及器件研讨会论文集
会议名称:第十二届全国硅基光电子材料及器件研讨会  
会议时间:2017年5月25日
会议地点:厦门
主办单位:厦门大学,浙江大学
语种:chi
分类号:TN3O41
关键词:锗材料  能带结构  晶格振动  散射几率
在线出版日期:2020年6月22日
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