Formal验证在覆盖率收敛中的应用.pdf
在SOC芯片的开发中,功能覆盖率与代码覆盖率是检查验证完备性的标准.在大规模的模拟验证之后剩余的未覆盖点,如果继续使用伪随机环境进行验证往往步履维艰.随着Formal验证技术的逐渐成熟,采用Formal验证的思想和工具找到未覆盖点中的不可达点,对加速芯片验证后期的覆盖率收敛有着事半功倍的效果.
作者：李彦哲 张晓冬 濮晨
作者单位：上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕升路399号201204上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕开路399号201204上海高性能集成电路设计中心,上海市浦东新区毕升路399号201203
母体文献：第二十届计算机工程与工艺年会暨第六届微处理器技术论坛论文集
会议名称：第二十届计算机工程与工艺年会暨第六届微处理器技术论坛
会议时间：2016年8月10日
会议地点：西安
主办单位：中国计算机学会
语种：chi
分类号：TP3TN4
关键词：片上系统 芯片开发 覆盖率收敛 形式验证
在线出版日期：2017年10月24日
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