Feko在近场扫描中的应用.pdf
近场扫描是确定电子器件电磁干扰源的一种重要方法.本文基于Altair公司的Feko软件,仿真了磁场探头对一待测器件上方磁场的近场扫描过程,并对有探头的扫描场和无探头的仿真场进行了对比.结果表明扫描场与仿真场具有很好的一致性,体现了Feko软件强大的电磁仿真性能.
作者：张家深
作者单位：浙江大学信电学院、杭州、310027
母体文献：
会议名称：2019Altair技术大会
会议时间：2019年7月10日
会议地点：上海
主办单位：澳汰尔工程软件(上海)有限公司
语种：chi
分类号：O65TP3
关键词：电子器件 电磁干扰源 近场扫描 仿真分析
在线出版日期：2021年3月22日
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