利用测高卫星的全球电离层TEC格网精度分析

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IGS发布的GIMs产品是电离层研究的重要数据源之一,但各IGS国际电离层分析中心建立电离层模型的方法不同,所以各电离层分析中心发布的GIMs产品精度有所不同.本文以2009～2017年近一个太阳活动周期JASON2海洋测高卫星的VTEC数据为参考,对国内外的六家电离层分析中心的GIMs最终产品在全球尺度进行评估和精度分析.结果表明:在靠近IGS基准站的地区,JASON2海洋测高卫星和各电离层分析中心TEC的差异较小,远离IGS基准站的区域差异较大,平均残差约为0.1～2.8TECU,标准差约为4.5～5.4TECU.同时,随着太阳活动的不同,各电离层分析中心的GIMs精度也有所不同.在太阳活动高年,分析中心UPC和CODE的GIMs的精度优于其他分析中心GIMs;太阳活动低年,各分析中心差异不大.因此,太阳活动高年和低年分析中心UPC和CODE的GIMs都有更好的适用性.
作者：刘航陈鹏马永超阮青山
作者单位：西安科技大学,西安,中国,710054
母体文献：第十届中国卫星导航学术年会论文集
会议名称：第十届中国卫星导航学术年会  
会议时间：2019年5月1日
会议地点：北京
主办单位：中国卫星导航学术年会组委会
语种：chi
分类号：P73P22
关键词：电离层  全球电离层格网  总电子含量  测高卫星
在线出版日期：2019年4月18日
基金项目：
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