元件对非接触式电导检测器性能的影响

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电容耦合非接触电导检测技术(C4D)具有无电极污染、灵敏度高、结构简单等优点,是微纳尺度分析的一种理想检测手段.确定影响C4D性能的因素对提高C4D检测的灵敏度、拓展应用范围有重要意义.本工作采用最基本的C4D结构单元,系统考察了OPA128、OPA380和OPA656这三种运算放大器对检测器性能的影响.本工作采用最基本的C4D结构单元，系统考察了OPA128、OPA380和OPA656这三种运算放大器对检测器性能的影响。结果证明运算放大器选型对C4D的响应有显著影响，对于确定的运算放大器，存在一个信号响应较灵敏的激励信号频率区间：a.采用相同运算放大器时，反馈电阻、激励频率决定了响应信号的大小；b.信号噪音与运算放大器、激励频率有关，同一运算放大器在不同激励频率下信号噪音明显不同。选择最佳激励频率时应该避开信号噪音较大的区域选择信号噪音较小的区域。该结果对提升C4D检测的灵敏度具有指导作用，为C4D检测器元件选型及激励频率的选择提供了依据。
作者：王远航黄伶慧吴晶蒲巧生
作者单位：兰州大学化学化工学院,甘肃省兰州市城关区天水南路222号,730000
母体文献：第21届全国色谱学术报告会论文集
会议名称：第21届全国色谱学术报告会  
会议时间：2017年5月19日
会议地点：成都
主办单位：中国化学会
语种：chi
分类号：
关键词：电导检测器  运算放大器  设备选型  性能表征
在线出版日期：2019年4月25日
基金项目：
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2024-12-1 21:27 上传 元件对非接触式电导检测器性能的影响.pdf

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