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[数理和化学] 一种氰根诱发的氢键破坏的去质子机理用丙硫酮酰腙功能化的双柱[5]芳烃荧光检测CN

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admin 发表于 2024-12-1 21:20 | 查看全部 阅读模式
一种氰根诱发的氢键破坏的去质子机理用丙硫酮酰腙功能化的双柱[5]芳烃荧光检测CN.jpg
一种氰根诱发的氢键破坏的去质子机理用丙硫酮酰腙功能化的双柱[5]芳烃荧光检测CN.pdf
迄今为止,涉及柱[n]芳烃与无机阴离子的主客体识别非常有限,只有少量出版的文章涉及柱[n]芳烃作为受体识别氰根阴离子.然而基于双柱[5]芳烃的氰根传感器迄今为止未见报道.
作者:丁金东陈进发韩冰冰江晓梅姚虹张有明林奇魏太保
作者单位:西北师范大学化学化工学院,兰州730079
母体文献:全国第十九届大环化学暨第十一届超分子化学学术讨论会论文集
会议名称:全国第十九届大环化学暨第十一届超分子化学学术讨论会  
会议时间:2018年8月16日
会议地点:呼伦贝尔
主办单位:中国化学会
语种:chi
分类号:TQ4TQ2
关键词:荧光传感器  双柱[5]芳烃  分子内氢键  去质子机理  氰根离子  检测性能
在线出版日期:2021年11月24日
基金项目:
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