文档摘要：本文基于MCS51单片机，构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测，从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用，能减少了测试时间，提高了检测效率，降低了劳动强度。该检测仪具有良好的移植和扩展性。
Abstract：ThedesignisbasedonMCS51MCU,constructthedigitalICstroubletestingsystemdesignfortheTTL.ThissystemcantestlogicfunctionofTTLseriesdigitallogicchipfastandaccurate,judgethequalityandmodelofthechip.Theuseofthedetectorcanreducethetesttime,improvethedetectionefficiency,reducethelaborintensity.Thedetectorhasgoodtransplantationandexpansibility.
作者：孙韩 朱军Author：SunHan ZhuJun
作者单位：安徽大学电子信息工程学院合肥230601
刊名：办公自动化（学术版）
Journal：OfficeAutomation
年，卷(期)：2015, (8)
分类号：TN431.2TH89
关键词：集成电路 故障检测 MCS51单片机
Keywords：Integratedcircuit Troubletesting MCS51MCU
机标分类号：TN7O4
在线出版日期：2015年9月11日
基金项目：一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计[
期刊论文] 办公自动化（学术版）--2015, (8)孙韩 朱军本文基于MCS51单片机，构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测，从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用，能减少了测试时间，提高了检测效率，降低了...参考文献和引证文献
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关键词：集成电路,故障检测,MCS51单片机,
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