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碳氟表面活性剂及其复配体系临界胶团浓度的测定

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1 黄金阳光 发表于 2024-10-4 01:51 | 查看全部 阅读模式
文档摘要:对于两性碳氟表面活性剂C8F17及其与阳离子表面活性剂CTAB、阴离子表面活性剂SDBS复配体系,分别以Ce3和芘为探针,使用荧光光谱法研究体系临界胶团浓度(cmc),并且与表面张力法相比较来探究此方法的可行性.结果表明,Ce3探针可以进行碳氟表面活性剂C8F17及其复配体系的临界胶束浓度的测定,芘探针的荧光光谱法只能进行C8F17复配体系的临界胶束浓度的测定,三种测定方法测定的结果一致,表明Ce3+是可以作为研究表面活性剂性质的荧光探针.

作者:王泽世  侯迎迎  刘金彦Author:WANGZe-shi  HOUYing-ying  LIUJin-yan
作者单位:内蒙古科技大学化学化工学院,内蒙古包头,014010
刊名:内蒙古科技大学学报
Journal:JournalofInnerMongoliaUniversityofScienceandTechnology
年,卷(期):2016, 35(2)
分类号:TQ423
关键词:碳氟表面活性剂  复配体系  临界胶团浓度(cmc  Ce3+  荧光探针  
机标分类号:TQ4O64
在线出版日期:2016年7月19日
基金项目:国家自然科学基金碳氟表面活性剂及其复配体系临界胶团浓度的测定[
期刊论文]  内蒙古科技大学学报--2016, 35(2)王泽世  侯迎迎  刘金彦对于两性碳氟表面活性剂C8F17及其与阳离子表面活性剂CTAB、阴离子表面活性剂SDBS复配体系,分别以Ce3和芘为探针,使用荧光光谱法研究体系临界胶团浓度(cmc),并且与表面张力法相比较来探究此方法的可行性.结果表明,Ce3探针...参考文献和引证文献
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